荧光X射线参考辐射的优化
丁亚东, 魏可新, 宋明哲, 刘巧凤
2014, 34(6):
366-369.
摘要
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参考文献 |
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多维度评价
在荧光X射线参考辐射场中,射线的强度和纯度会受到机械装置本身、辐射体厚度、次级过滤厚度、X光机管电压的影响。在优化设计参考辐射装置结构的基础上,通过理论分析计算和蒙特卡罗模拟,得到荧光强度和纯度随辐射体和次级过滤厚度的变化,并对X光机管电压对荧光强度和纯度的影响进行了测量。结果显示:F-Cs这一辐射质,当辐射体Cs2SO4的厚度大于490 μm时,荧光强度达到饱和;当次级过滤TeO2的厚度约为327 μm时,荧光纯度最高;荧光强度随X光机管电压的升高而增加,纯度随管电压的升高而降低。