金属氧化物半导体场效应晶体管中总剂量效应导致的阈值电压漂移研究现状
刘一宁, 王任泽, 杨亚鹏, 王宁, 冯宗洋, 贾林胜, 张建岗, 李国强
A review of total ionizing dose (TID) inducedshift of threshold voltage of MOSFETs
LIU Yining, WANG Renze, YANG Yapeng, WANG Ning, FENG Zongyang, JIA Linsheng, ZHANG Jiangang, LI Quoqiang
辐射防护
.
2020, (6): 663
-670
.
