荧光X射线参考辐射的优化

辐射防护 ›› 2014, Vol. 34 ›› Issue (6): 366-369.

荧光X射线参考辐射的优化

丁亚东^1,2, 魏可新², 宋明哲², 刘巧凤²

1.中国科学院高能物理研究所, 北京 100049;
2.中国原子能科学研究院, 北京 102413

收稿日期:2014-01-14 出版日期:2014-11-20 发布日期:2025-01-07
作者简介:丁亚东(1987—),男,2009年毕业于山东大学物理学院物理学专业,2012年毕业于中国原子能科学研究院粒子物理与原子核物理专业,获硕士学位,现为中国科学院高能物理研究所核技术及应用专业在读博士。E-mail:dingyd@ihep.ac.cn

Optimization of Fluorescence X Ray Reference Radiation

Ding Yadong^1,2, Wei Kexin², Song Mingzhe², Liu Qiaofeng²

1. Institute of High Energy Physics, CAS, Beijing 100049;
2. China Institute of Atomic Energy, Beijing 102413

Received:2014-01-14 Online:2014-11-20 Published:2025-01-07

摘要/Abstract

摘要： 在荧光X射线参考辐射场中,射线的强度和纯度会受到机械装置本身、辐射体厚度、次级过滤厚度、X光机管电压的影响。在优化设计参考辐射装置结构的基础上,通过理论分析计算和蒙特卡罗模拟,得到荧光强度和纯度随辐射体和次级过滤厚度的变化,并对X光机管电压对荧光强度和纯度的影响进行了测量。结果显示:F-Cs这一辐射质,当辐射体Cs₂SO₄的厚度大于490 μm时,荧光强度达到饱和;当次级过滤TeO₂的厚度约为327 μm时,荧光纯度最高;荧光强度随X光机管电压的升高而增加,纯度随管电压的升高而降低。

关键词: 荧光X射线, 参考辐射, 辐射体, 次级过滤, 管电压, MCNP

Abstract: In the reference radiation field of fluorescence X ray, intensity and purity of X ray are influenced by mechanical equipment, thickness of radiator, thickness of secondary filter, tube voltage of X ray machine. Based on the optimized structural design of reference radiation device, through theoretical analysis calculation and Monte Carlo simulation, differences of fluorescence intensity and purity following the thickness of radiator and secondary filter were obtained, and fluorescence intensity and purity influenced by X ray tube voltage were also got measured. The results show that: to the F-Cs radiation quality, when the thickness of radiator is greater than 490 μm, intensity is saturated. When the thickness of secondary filter equals to 327 μm, purity is the highest. Intensity increases with the rise of voltage, but purity declines with the increase of voltage.

Key words: fluorescence X ray, reference radiation, radiator, secondary filter, tube voltage, MCNP

中图分类号:

O571

丁亚东, 魏可新, 宋明哲, 刘巧凤. 荧光X射线参考辐射的优化[J]. 辐射防护, 2014, 34(6): 366-369.

Ding Yadong^1,2, Wei Kexin², Song Mingzhe², Liu Qiaofeng². Optimization of Fluorescence X Ray Reference Radiation[J]. RADIATION PROTECTION, 2014, 34(6): 366-369.

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